Tid og sted for prøveforelesning
Bedømmelseskomité
- Private Professor Pietro P. Altermatt, Leibniz University of Hannover, Tyskland
- Assistant Professor Hele Savin, Aalto University, Finland
- Førsteamanuensis Joakim Bergli, Universitetet i Oslo, Norge
Leder av disputas
Professor Jøran Moen, Universitetet i Oslo
Veileder
- Erik Marstein (IFE / UiO/ UNIK)
- Ørnulf Nordseth (IFE)
- Edouard Monakhov (UiO)
Sammendrag
Utviklingen av silisiumbaserte solceller går raskt fremover, og nylig lanserte det japanske selskapet Panasonic en ny celle som satte ny verdensrekord med en virkningsgrad på hele 25.6 %. En av de viktigste teknologiske fremskrittene som gjør slike rekorder mulig er reduksjon av elektroniske tap på overflatene til solcellen, en prosess kalt overflatepassivering. Ettersom tykkelsen på silisiumskivene stadig blir mindre blir god overflatepassivering også viktigere i produksjon av høyeffektive solceller.
I denne avhandlingen har vi utviklet en ny metode for å måle de viktigste egenskapene til ulike tynne filmer som brukes til overflatepassivering. Den nye metoden er basert på en fysisk prosess kalt fotoluminsens, og tillater oss å generere bilder av overflatepassiveringen på de ulike områdene på solcellen samtidig som vi kan direkte påvirke denne med en ytre spenning. Vi håper den nye metoden kan bli nyttig for solcelleforskere over hele verden, og bidra til å øke virkningsgraden til solcellene slik at solcellemarkedet kan fortsette å vokse og bli enda mer utbredt enn det er i dag.
For mer informasjon
Kontakt ekspedisjonskontoret:
e-post: ekspedisjon@fys.uio.no
Telefon: 22 85 64 28