Disputas: Halvard Haug

M. Sc. Halvard Haug ved Fysisk institutt vil forsvare sin avhandling for graden ph.d: “New methods for investigation of surface passivation layers for crystalline silicon solar cells”

 

Halvard Haug

Tid og sted for prøveforelesning

Se prøveforelesning

Bedømmelseskomité

  • Private Professor Pietro P. Altermatt, Leibniz University of Hannover, Tyskland
  • Assistant Professor Hele Savin, Aalto University, Finland
  • Førsteamanuensis Joakim Bergli, Universitetet i Oslo, Norge

Leder av disputas

Professor Jøran Moen, Universitetet i Oslo

Veileder

  • Erik Marstein (IFE / UiO/ UNIK)
  • Ørnulf Nordseth (IFE)
  • Edouard Monakhov (UiO)

Sammendrag

Utviklingen av silisiumbaserte solceller går raskt fremover, og nylig lanserte det japanske selskapet Panasonic en ny celle som satte ny verdensrekord med en virkningsgrad på hele 25.6 %. En av de viktigste teknologiske fremskrittene som gjør slike rekorder mulig er reduksjon av elektroniske tap på overflatene til solcellen, en prosess kalt overflatepassivering. Ettersom tykkelsen på silisiumskivene stadig blir mindre blir god overflatepassivering også viktigere i produksjon av høyeffektive solceller.

I denne avhandlingen har vi utviklet en ny metode for å måle de viktigste egenskapene til ulike tynne filmer som brukes til overflatepassivering. Den nye metoden er basert på en fysisk prosess kalt fotoluminsens, og tillater oss å generere bilder av overflatepassiveringen på de ulike områdene på solcellen samtidig som vi kan direkte påvirke denne med en ytre spenning. Vi håper den nye metoden kan bli nyttig for solcelleforskere over hele verden, og bidra til å øke virkningsgraden til solcellene slik at solcellemarkedet kan fortsette å vokse og bli enda mer utbredt enn det er i dag.

 

For mer informasjon

Kontakt ekspedisjonskontoret:

e-post: ekspedisjon@fys.uio.no

Telefon: 22 85 64 28

Publisert 22. mai 2014 09:46 - Sist endret 5. juni 2020 15:05