print logo

Elektronmikroskopi

I elektronmikroskopet benyttes elektroner til å belyse prøven, istedenfor lys. Akselereres elektronene med 200 kV, blir hastigheten til elektronene så stor at de kan tilordnes en bølgelengde på 2,5 pm (2,5 10-12 m). Dette er så mye mindre enn bølgelengden til synlig lys (400-700 10-9 m) at mye mindre detaljer kan avbildes.

Ikke alle elektronmikroskop hvor elektronene akselereres med 200 kV har den samme oppløsningsevnen. Konstruksjonen av de elektromagnetiske linsene og typen elektronkilde er også avgjørende for hvor god oppløsning et mikroskop vil ha.

Vårt 2010F-mikroskop har en punktoppløsning på 190 pm. Det betyr at vi kan bruke dette instrumentet til høyoppløsningsavbildning, dvs. at kolonner av atomer kan avbildes, så fremt de ligger mer enn 190 pm fra hverandre.

Men det er så mye mer enn avbildning som kan gjøres med en TEM. Fra nanometerstore områder på prøven kan vi: få diffraksjonsinformasjon som gir informasjon om bl.a. planavstander og atomposisjoner i enhetsellen; detektere røntgenstråingen som sendes ut fra prøven og på den måten bestemme den kjemiske sammensetningen; detektere energitapet til elektronene som har gått gjennom prøven, for å få informasjon om bindingstilstander/kjemisk tilstander, sammensetning m.m.

I kombinasjon med STEM (skanning transmisjonselektronmikroskopi) kan vi gjøre røntgen- og energitaps-"mapping". Dvs. kartlegge hvor de ulike kjemiske grunnstoffene befinner seg. Mulighetene til å kombinere alle disse teknikkene er det som gjør TEM til et unikt instrumenter for å skaffe informasjon om materialer på atomært nivå.

Mye vanskelige forkortelser?
FEG = feltemisjonskanon ("field-emission gun"), STEM = skanning transmisjonselektronmikroskop, HAADF = høyvinkel sirkulært mørkefelt ("high-angle annular dark field"), EELS = elektron energitapsspektrometri ("elektron energy-loss spectrometry"), EDS = energidispersibel spektrometri.

Mer informasjon på engelske sider om TEM

Publisert 20. jan. 2011 10:59 - Sist endret 24. mar. 2011 12:30