Mastereksamen: Jon Arthur Borgersen

Scanning Probe Microscopy - Method Development and Applications to Zinc Oxide Structures

  • Masterprogram: Materialer, energi og nanoteknologi
  • Ekstern sensor: professor Anders Hallén, KTH
  • Intern sensor:1.amanuensis Øystein Prytz
  • Veiledere: 1.amanuensis Lasse Vines og professor Andrej Kuznetsov

 

Etter presentasjonen vil kandidaten bli eksaminert på rom Ø358.

Publisert 18. mai 2016 13:39 - Sist endret 18. mai 2016 13:39