Thomas Aarholt

Bilde av Thomas Aarholt
English version of this page
Brukernavn
Besøksadresse Gaustadalléen 23C MiNaLab 0373 OSLO
Postadresse Postboks 1048 Blindern 0316 OSLO

Faglige interesser

Som forsker på UiO jobber jeg med å forstå de grunnleggende egenskapene rundt defekter i halvledere. Til det bruker jeg electron energy loss spectroscopy (EELS) på en monokromert FEI Titan transmisjonselektronmikroskop (TEM). Vi måler båndgapet på båndgapet på defektene i halvledere med veldig høy romlig oppløsning.

Tidligere har jeg jobbet på University of Oxford med å redusere korrosjon i zirconiumoksid i kjernekraftreaktorer. Der brukte jeg også EELS, og studerte med både low-loss og core-loss i området der oksid og metall møtes. Ved å forstå mekanismen bak korrosjonsprosessen i ZIRLO og Zircaloy gjør vi reaktorer tryggere og mer effektive. I tillegg til EELS og TEM/STEM investigerte jeg hydrogenopptaket av oksidlaget med Cameca NanoSIMS, et avansert massespektroskop. Der fant jeg blant annet at hydrogen kommer seg inn i metallet langs grain boundaries.

Bakgrunn

Drillgardist i Kongens Garde

Nanotechnology BSc 1st Honours, University of Leeds

Doctor of Philosophy, University of Oxford

Samarbeid

Doktorgrad som del av MUZIC-2, Mechanistic Understanding of ZIRconium oxidation

Postdoktor som del av forskningsprogrammet FUNDAMeNT.

 

Lenker:

ResearchGate

LinkedIn

 

Emneord: SMN, EELS, ZIRLO, FUNDAMeNT

Publikasjoner

  • Granerød, Cecilie Skjold; Bilden, Sindre Rannem; Aarholt, Thomas; Yao, Yu-Feng; Yang, C. C.; Look, David C.; Vines, Lasse; Johansen, Klaus Magnus H & Prytz, Øystein (2018). Direct observation of conduction band plasmons and the related Burstein-Moss shift in highly doped semiconductors: A STEM-EELS study of Ga-doped ZnO. Physical Review B.  ISSN 2469-9950.  98 . doi: 10.1103/PhysRevB.98.115301 Fulltekst i vitenarkiv.
  • Sønsteby, Henrik Hovde; Aarholt, Thomas; Prytz, Øystein; Fjellvåg, Helmer & Nilsen, Ola (2018). First Complex Oxide Superconductor by Atomic Layer Deposition. Chemical Communications.  ISSN 1359-7345.  54(59), s 8253- 8256 . doi: 10.1039/c8cc04998j
  • Zhan, Wei; Venkatachalapathy, Vishnukanthan; Aarholt, Thomas; Kuznetsov, Andrej & Prytz, Øystein (2018). Band gap maps beyond the delocalization limit: correlation between optical band gaps and plasmon energies at the nanoscale. Scientific Reports.  ISSN 2045-2322.  8(848), s 1- 7 . doi: 10.1038/s41598-017-18949-9 Fulltekst i vitenarkiv.

Se alle arbeider i Cristin

  • Aarholt, Thomas; Sky, Thomas Neset; Nguyen, Phuong Dan & Prytz, Øystein (2018). Low-kV EELS band gapmeasurements on indium monolayer structures in ZnO.
  • Aarholt, Thomas (2017). Searching for single-defects by GPU-accelerated STEM Simulation.
  • Aarholt, Thomas (2017). Searching for single-defects by GPU-accelerated STEM simulation.
  • Aarholt, Thomas (2017). Searching for single-defects by GPU-accelerated STEM simulation.
  • Aarholt, Thomas (2017). Smart Align - an acquisition tool for scanning microscopy.
  • Aarholt, Thomas (2017). Statistical analysis for noise reduction and phase separation in spectroscopy techniques.
  • Aarholt, Thomas & Lobato, Ivan (2017). MULTEM Simulation Workshop.

Se alle arbeider i Cristin

Publisert 3. apr. 2017 10:04 - Sist endret 3. apr. 2017 22:17