English version of this page

Orazio Samperi

Bilete av Orazio Samperi
E-post oraziosa@smn.uio.no
Brukarnamn
Besøksadresse Gaustadalléen 23A Kristen Nygaards hus
Postadresse Postboks 1048 Blindern 0316 Oslo

Les meir på den engelske versjonen av personsida.

Emneord: SMN, Halvledere, Ionimplantasjon, Punkt defekter, Overflatekjemi, DLTS, SIMS, AFM

Publikasjonar

  • Samperi, Orazio; Azarov, Alexander; Bobal, Viktor; Bertolini, Mario Pietro; Cantiano, Massimiliano & Vines, Lasse [Vis alle 9 forfattere av denne artikkelen] (2025). Effects of ion channelling on 350 keV proton implantation of 4H-SiC measured by D-SIMS and DLTS defect profiling. Materials Science in Semiconductor Processing. ISSN 1369-8001. 190. doi: 10.1016/j.mssp.2025.109320. Fulltekst i vitenarkiv
  • Samperi, Orazio; Vines, Lasse; Bertolini, Mario Pietro; Cantiano, Massimiliano; Coffa, Salvo & Fragalà, Maria Elena (2024). Hydrogen depth profiling and multi-energy proton implantation: SIMS as a tool for implant process control. Materials Science in Semiconductor Processing. ISSN 1369-8001. doi: 10.1016/j.mssp.2024.108219. Fulltekst i vitenarkiv

Sjå alle arbeida i NVA

Publisert 15. apr. 2025 16:45 - Sist endra 8. okt. 2025 09:33

Prosjekt

Forskargruppe