Mastereksamen: Jonas Carlsen

Design and Validation of Two Single Event Latch-up Protection Solutions Comparing a New Single Event Latch-up Test Circuit with the IDEAS IDE3466 Single Event Latch-up Detection Module

Tid og sted: , Lille Fysiske auditorium (V232), Fysikkbygningen
  • Masterprogram: Elektronikk og datateknologi
  • Studieretning: Mikroelektronikk
  • Ekstern sensor: 1. am. Johan Alme (UiB)
  • Intern sensor: Professor Trine Tveter
  • Veiledere: 1. am. Ketil Røed

Etter presentasjonen vil kandidaten bli eksaminert på rom V207.

Publisert 22. mai 2018 18:41 - Sist endret 22. mai 2018 18:41
Del på e-post