Mastereksamen: Michael Arne Getz

Growth and modeling of ZnO and the characterization of epitaxal thin films by means of synchrotron radiation

Etter presentasjonen fortsetter eksamineringen på rom FV139 kl. 15:00.

Publisert 14. juni 2012 15:26 - Sist endret 22. juni 2012 09:51