Mastereksamen: Yassine Elfarri

Exploring the Single Event Effect Sensitivity of the TMS570 MCU for a CubeSat Application

  • Masterprogram: Elektronikk og datateknologi
  • Studieretning: Instrumentering/måleteknikk
  • Ekstern sensor: 1.amanuensis Johan Alme, Universitetet i Bergen
  • Intern sensor: professor Trine S. Tveter
  • Veileder: 1.amanuensis Ketil Røed

Kandidaten vil presentere sin masteroppgave i Lille fysiske auditorium (V232) og deretter bli eksaminert på rom Ø257 .

Publisert 25. sep. 2018 14:44 - Sist endret 25. sep. 2018 14:44