Mastereksamen: Lukas Støme Larsen

Growth and XPS characterization of ultrathin vanadium silicon interfaces on SiC and Si

  • Masterprogram: Fysikk
  • Studieretning: Materialer, nanofysikk og kvanteteknologi
  • Ekstern sensor: Philip Moriarty, University of Nottingham
  • Intern sensor: Knut Jørgen Måløy
  • Veiledere: Justin William Wells, Richard Justin Schenk

Etter presentasjonen vil kandidaten bli eksaminert på rom V139.

Publisert 7. okt. 2026 13:15 - Sist endret 7. okt. 2026 13:15